作者:
赵淑鹏,伯恩哈德·劳尔,洛伦佐·瓦尔扎尼亚,乔纳森·董,刘瑞峰,李富丽,西尔万·吉根,希尔顿,德·阿吉亚尔
摘要
长期以来,在不透明材料中进行深度成像一直是一个挑战。最近,波前整形使深度成像取得了显着进展。然而,大多数非侵入性波前整形方法都需要相机,在微弱的光信号下缺乏深度成像的灵敏度,或者只能聚焦在单个“导星”上。在这里,我们利用单像素检测结合计算框架,使用双光子荧光无创地检索透射矩阵,从而实现对超出记忆效应范围的多个导星的单目标聚焦。此外,如果我们假设TM中存在记忆效应相关性,我们就能够大大减少所需的测量次数。