通过傅里叶进动透射电镜对内置电场和轻物质进行成像

作者：

蒂齐安·洛伦岑，本杰明·马尔兹，薛天昊，安德烈亚斯·拜尔，克尔斯汀·沃尔兹，托马斯·贝恩 & 克努特·穆勒-卡斯帕里

摘要

我们报道了纳米结构中电场的精确测量，以及通过透射电子显微镜在超低电子剂量下对软物质进行高对比度成像。特别是，引入了一种基于互易定理的通用方法，以实现传统平面波照明透射电镜中的差分相衬成像和叠层成像。这是通过在不同倾斜度下采集的一系列 TEM 图像来实现的，从而引入了倒易空间中的采样率作为可调参数，与动量分辨扫描技术形成鲜明对比。首先，对砷化镓中p-n结的电场进行成像。其次，通过使用前置电子束与直接电子探测器相结合，证明了弱散射共价有机骨架中 Kagome 孔隙的低剂量、聚焦叠层和 DPC 表征。该方法为选择性地记录相关空间频率提供了最大的灵活性，而与4D-STEM相比，采集时间和剂量要求显着减少。