激光网3月20日消息，SICK 创新紧凑的 OD7000 位移传感器专为微米级超高精度而开发，能够在具有挑战性的应用中经济高效地可靠地测量微小距离。OD7000 由一个独立的控制器和传感器头组成，都非常紧凑，专为适应最狭小的机器空间而设计。
SICK OD7000 是一款一维激光测距传感器，即使在具有挑战性的材料上也能准确测量高度差异。其微小的光斑可精确地瞄准物体，无论颜色或表面材料如何，都能输出精确的测量结果，甚至可以精确地测量曲面。
SICK OD7000 的彩色共聚焦技术可对各种材料进行高精度测量，从黑色到透明、漫反射、反射甚至曲面。例如，SICK OD7000 可以检查目标物体是否光滑或位置是否正确。它可以测量孔或检查材料是否具有所需的厚度。使用一个传感器头，即使材料是透明的，它也可以同时测量多达三个非常薄的层。
因此，它非常适合需要微米级精度的各种测量任务，掌握电子元件制造或消费品包装中具有挑战性的应用。它可能会在电动汽车电池制造中得到应用，例如测量消费品和药品中玻璃和薄膜的厚度，或多层卫生纸和纸巾。
“SICK 付出了艰辛的努力，花了一些时间精心开发 OD7000，”SICK 英国测距产品经理 Nick Hartley 解释道。“其结果是一种高精度的仪器，它为一些最具挑战性的测量要求的制造商提供了输出精确数据的真正机会，而无需复杂的设置或超级昂贵的设备。
“使用具有 OD7000 性能的一维激光测距传感器，使机器集成能够实现高水平的材料检测和厚度测定，否则只有使用更昂贵的设备才能实现。”
两种控制器类型均带有以太网接口，可选择 3 个传感器头，测量范围为 600 μm、4mm 和 10mm，相应的分辨率为 25 nm、180 nm 和 400 nm。
OD7000 的工程工具具有易于使用的图形界面，允许用户可视化安装并快速配置控制器，同时其他设置可用于更高级的应用。OD7000 还提供串行 RS-232 / RS-422 或以太网 TCP/IP 接口作为标准配置。
OD7000 的控制器之一具有进一步的成本和节省空间的优势，能够将编码器输入定义为测量数据输出的触发器，因此在机器设置过程中不需要单独的编码器。SICK OD7000 的最大采样频率为 10 kHz，这意味着所有型号都具有相同的高性能，从而实现库存控制，从而最大限度地减少库存。
