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捷捷微电取得一种半自动光学目检治具专利,提高检测效率,确保芯片品质

2024-02-29 15:47:50     

在智能科技的时代浪潮中,捷捷微电子公司再次展示其技术实力。近日,国家知识产权局宣布捷捷微电子成功取得一项创新专利,名为“一种半自动光学目检治具”,为该公司在技术领域的深耕与创新注入了新的动力。

国家知识产权局公告号为CN220542807U,专利申请日期为2023年7月。这标志着捷捷微电子在半自动光学目检领域取得了一项重要的突破。

专利内容解读

该项专利公开了一种半自动光学目检治具,主要包括以下组件:

底座: 设有底座,为整个治具提供稳定的基础。

可移动台: 安装在底座上,通过连接组件与底座相连接。

测量组件: 安装在可移动台上,用于执行光学目检测任务。

控制组件: 安装在可移动台上,用于对测量组件进行控制。

翻转固定阻尼力调节机构: 作为测量组件的一部分,包括两条轨道。

创新亮点

这一半自动光学目检治具的创新之处在于其结构简单而合理,通过连接组件的设计,使得底座、可移动台和测量组件之间形成有机的联动。此外,翻转固定阻尼力调节机构的引入进一步提高了整个治具的稳定性和操作的精准性。

应用与优势

污染与损坏减少: 在检测过程中不需要人手接触产品,有效减少了污染和损坏的风险。

提高效率: 新型治具设计使得检测过程更为高效,有效确保芯片品质。

平衡品质与效率: 创新设计有助于平衡芯片品质与生产效率,提高整体生产线的运行效能。

简单操作与低成本: 操作简单,成本低廉,为企业节省了不少人力资源和财力开支。

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