在硬件技术领域迈出的巨大一步!国家知识产权局日前公告，武汉光迅科技股份有限公司成功获得一项颇具创新的实用新型专利，专利名为“光学芯片打线通断智能检测装置”(授权公告号：CN220525951U，申请日期：2023年7月)。这一技术创新将为光学芯片制造领域注入新的活力。
专利技术解析
光学芯片打线通断智能检测装置的核心构成：
检测电路与信号识别模块
引脚通过金线打线与电路板上的金手指PAD连接。
金手指PAD连接电路接口，实现高效的电路通信。
检测电路包括输入端与输出端，通过电路接口连接。
智能检测系统
信号识别模块用于监测输出端的电平状态。
根据电平状态判断光学芯片打线的成功或失败。
LCOS芯片引脚通过电路板PAD与检测电路相连。
技术优势
高效快捷的检测机制：
采用智能检测系统，加速对LCOS芯片引脚打线状态的判断。
通过金线打线连接的方式，使得对打线成功或失败的检测更加迅速。
简化工艺流程：
结构简单，装配定位要求低，降低了生产制造的难度。
金手指PAD与电路接口的巧妙设计，提高了设备的稳定性和可靠性。
技术应用前景
这一光学芯片打线通断智能检测装置的成功研发，将在光学芯片制造领域引起一场技术革命。其快速、便捷、高效的检测机制不仅提高了生产效率，同时也解决了传统检测方式的繁琐问题。这项技术将为光迅科技打开更广阔的市场空间，推动光学芯片行业的创新发展。
