光迅科技股份有限公司再次引领硬件技术的创新浪潮，最新获得的专利“一种光学芯片打线通断智能检测装置”成为其创新实力的鲜明标志。国家知识产权局公告显示，该专利号为CN220525951U，申请日期为2023年7月，为光迅科技在光学芯片打线领域的创新贡献了独特的智能检测解决方案。
专利技术解读
光学芯片打线通断智能检测装置
这一创新装置包括两大核心模块：检测电路和信号识别模块。
检测电路
与电路接口相连
输入端与输出端
信号识别模块
连接输出端
用于检测输出端的电平状态
在光学芯片上，引脚通过金线与电路板上的金手指PAD相连接，而金手指PAD连接电路接口。检测电路的输入端与电路接口相连，输出端连接信号识别模块。信号识别模块的主要作用是检测输出端的电平，并根据电平状态判断光学芯片打线的成功或失败。
这一装置通过先将LCOS芯片的引脚连接到电路板PAD上，再通过电路接口将信号连接到检测电路，最后通过信号识别模块检测输出端电平状态，实现了对LCOS芯片打线状态的快速而便捷的智能检测。
通过这一智能检测装置，光迅科技成功解决了现有技术中LCOS芯片打线检测过程中存在的繁琐、耗时的问题。引入检测电路和信号识别模块，使得对光学芯片打线成功或失败的检测更加迅速、准确，为生产效率的提升注入了新的动力。
截至目前，光迅科技今年已获得专利授权数不断攀升，显示出公司在技术创新方面的高度投入。与此同时，公司在研发方面的投资同比增长了显著的比例，为未来的科技创新和专利申请奠定了坚实基础。
