在光学扫描技术领域，西安炬光科技股份有限公司迎来了一项创新性的突破。根据国家知识产权局的公告，该公司成功申请了一项名为“一种线光斑光学扫描模组、装置和激光探测系统”的专利，公开号为CN117553908A，申请日期为2022年8月。这一专利将在光学扫描技术领域掀起一场革命，引发业内广泛关注。
该专利涉及到线光斑光学扫描模组、装置和激光探测系统，其中包括整形模块和扫描模块。以下是该专利的核心技术要点：
该专利采用了一种独特的扫描模块，包括光束位移镜和柱面扫描镜。光束位移镜通过驱动件的驱动，沿光源的主光轴转动或绕慢轴方向往复摆动。这一设计实现了透射式、不同角空间范围的往复扫描，极大地提高了扫描的全面性和效率。
整形模块负责将光源发射的光束整形成线光束。线光束经过光束位移镜透射并汇聚到柱面扫描镜的前焦面上，产生连续变动的平移量。这一过程通过柱面扫描镜的准直和调整，实现了线光束在角空间透射式往复扫描。
通过光束位移镜的透射式扫描，成功避免了扫描盲区的产生，确保扫描后能够得到完整的光斑。这一创新手段大幅提高了光斑的质量，为激光探测系统的性能提升提供了强有力的支持。
这项专利不仅在技术上实现了扫描的全面性和效率的提升，而且在实际应用中具有广泛的前景。在激光探测系统领域，这一创新技术将带来更加精准、可靠的扫描结果，为科研和工业应用提供了强大的支持。
西安炬光科技成功申请的线光斑光学扫描专利标志着该公司在光学扫描技术领域的独特贡献。这一创新性技术有望在未来的激光探测系统领域取得巨大成功，推动科技的不断进步。随着专利的进一步实施和推广，相信将在光学扫描技术领域引领一场新的发展浪潮。
