中科飞测-U申请光学检测系统专利，测量精度高、倍率调节区间大

近日，国家知识产权局发布公告，深圳中科飞测科技股份有限公司成功申请了一项名为"光学检测系统"的专利(公开号：CN117433427A)，该专利申请日期为2023年7月。

该专利涉及的光学检测系统包括光源、调整模块、第一检测模块、第二检测模块和采集模块。下面我们将对其主要特点进行介绍。

光源是系统的核心，用于产生或引入测量用光，为后续的光学检测提供必要的能量。

调整模块的作用在于调整光线，确保光学系统能够在不同条件下保持稳定的工作状态。

系统包含两个检测模块，分别为第一检测模块和第二检测模块。这两个模块的关键功能是对光线进行扩束整形，从而提高光学检测的精度和效率。

采集模块负责收集光学数据，是整个系统中至关重要的一部分。它确保测量结果的准确性和可靠性。

该光学检测系统的创新之处在于第二检测模块的扩束整形能力强于第一检测模块，使得系统具有更高的测量精度和更大的倍率调节区间。这一特点使得深科飞测科技在光学检测领域独树一帜。

光学检测系统的高测量精度和广泛的倍率调节区间为其在多个领域的应用提供了广阔的前景。从科研实验到工业生产，该系统都能够发挥出色的作用。