通用电气申请磁光缺陷可视化专利 提高了系统的适用性和灵活性

近日，通用电气公司成功申请了一项颇具前瞻性的专利，名为“磁光缺陷可视化系统”。这一系统的设计突破传统，可用于与成像装置(如智能手机、平板电脑或管道镜)配合使用，实现对部件表面或次表面缺陷的磁光可视化检测。

根据专利摘要显示，这一磁光成像设备的外壳具有创新性。外壳包含一个接口，可连接成像装置，使得成像装置的相机和光源能够实现磁光可视化。这个外壳还包括光学元件，其中包含多个关键组成部分，如过滤器、偏振器、磁光或石榴石薄膜以及分析器。

为了更有效地感应部件中的磁场，外壳还集成了柔性线圈或电端子。这一设计使得磁光成像设备能够在检测过程中更灵敏地捕捉到部件表面或次表面的缺陷信息，为精准的缺陷检测提供了可靠的技术支持。

为了适应部件的非平面表面，磁光成像设备还采用了一个或多个适形材料的半透明或透明体。这个设计确保了磁光薄膜和柔性线圈能够与部件的复杂表面相适应，提高了系统的适用性和灵活性。