超分辨荧光显微镜通过使用荧光探针和特定的激发和发射程序，超越了曾经是屏障的分辨率衍射极限。
大多数 SR 技术严重依赖图像计算和处理来检索 SR 信息。然而，荧光团光物理、样品的化学环境和光学设置情况等因素可能会导致原始图像出现噪点和失真，从而可能影响最终 SR 图像的质量。因此，对于SR显微镜开发人员和用户来说，拥有一种可靠的方法来量化重建质量至关重要。
由于 SR 成像的可分辨性提高，因此有必要进行彻底的评估，但当局部分辨率在视场内发生变化时，现有工具往往不足。
在发布在《光：科学与应用》上的一项研究中，一组科学家引入了一种称为滚动傅里叶环相关的新方法。该方法有助于直接在超分辨率域中表示分辨率异质性，从而实现无与伦比的 SR 规模映射，并轻松将分辨率映射与 SR 内容相关联。
此外，该团队还对分辨率缩放误差图进行了改进，从而实现了更准确的系统误差估计。这与 rFRC 结合使用，创建了一种称为 PANEL的组合技术，该技术侧重于从 SR 图像中精确定位低可靠性区域。
科学家们成功地将PANEL应用于各种成像方法，包括单分子定位显微镜、超分辨率径向波动、结构照明显微镜和反卷积方法，验证了其定量图谱的有效性和稳定性。
PANEL可用于改善SR图像。例如，它已被有效地用于融合通过各种算法重建的 SMLM 图像，从而提供高质量的 SR 图像。
预计他们的方法将成为本地质量评估的主要工具，该团队已将 PANEL 作为开源框架进行访问。提供了 MATLAB 和 Python 的相关库，以及 GitHub 上现成的 Fiji/ImageJ 插件。
