奥比中光-UW取得光学信息检测系统专利 可用于对第一图像进行特征提取

　　在国家知识产权局的公告中，奥比中光科技集团股份有限公司成功取得了一项引人瞩目的专利。该专利名为"一种光学信息检测系统"，授权公告号为CN111929695B，其申请日期可追溯至2020年7月。

　　该专利创新涉及光学技术领域，提供了一种全新的光学信息检测系统。其核心组件包括投影组件、投影屏、第一成像模组以及光学信息检测装置。

　　投影组件与投影屏，该系统的投影组件被用于将特定投影图案精确投射至投影屏上。

　　第一成像模组，此模组负责捕捉投射到投影屏上的第一图像。

　　光学信息检测装置，可用于对第一图像进行特征提取，从而得到第一特征信息。

　　这一系统通过特殊的技术实现了对光学信息的准确检测。其主要特点包括：

　　采集预设参考全场投影图案的第二特征信息和第一图形信息;

　　计算第一特征信息和第二特征信息之间的映射关系;

　　将第一图形信息映射至目标全场投影图案，得到对应的第二图形信息;

　　根据第二图形信息，计算目标光学信息。

　　该系统在光学信息检测方面具有显著优势。在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都能精准地对光学信息进行检测。