清华大学申请激光器性能测试技术专利 可获得待测激光器的相对强度噪声

根据国家知识产权局的公告，清华大学提出了一项名为“激光器相对强度噪声的测试系统及方法”的专利申请，公开号CN117309331A，申请日期为2023年10月。

该专利涉及激光器性能测试技术领域，特别涉及一种激光器相对强度噪声的测试系统及方法。系统主要包括：

光电探测器：用于接收待测激光器的光信号，并将其转换为电信号。

信号处理电路：对电信号进行处理，获取处理后的电信号。

频谱分析仪：对处理后的电信号进行谱密度分析，得到待测激光器的谱密度，进而获得相对强度噪声信息。

这项专利解决了对低相对强度噪声、小输入光功率情况下的问题。在此情况下，相对强度噪声项通常远小于散粒噪声项，导致二次拟合系数不确定性增加，降低了测试系统的精确性。此外，测试步骤繁琐，简洁性也有所降低。

这一技术的提出填补了现有激光器测试技术的空白，提高了测试精度和系统的可靠性，为激光器性能测试领域带来了重大进步。